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航天用SOC测试与验证技术研究

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摘要

由于SOC芯片设计定型的特点,传统的测试方法已经不能满足SOC芯片测试的需求,不能像测试中小规模器件那样作为一个整体对SOC芯片进行测试.本文总结了几种可测性设计和测试方法,供芯片设计单位和可靠性专业单位参考.此外,为保证航天用SOC芯片的高可靠性,本文还提供了几种验证方法.

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来源
《第六届国防科技工业试验与测试技术发展战略高层论坛》|2016年|326-329|共4页
会议地点北京
作者
赵永兴; 杜鹃; 李永梅; 袁云华;
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作者单位

中国计算机自动测量与控制技术协会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;
关键词
系统级芯片; 测试技术; 验证方法;

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