基于宇航智造的宇航元器件可靠性预计模型适用性研究

摘要

以航天器电子单机产品智能制造技术为依托,本文以宇航元器件的应用条件信息为输入,基于可靠性数据分析方法,将宇航元器件在轨飞行经历数据转化为可靠性指标的估计值,作为规定元器件生产厂某一型号规格元器件在典型应用条件下的实际可靠性指标,给出基于智能制造的宇航元器件可靠性预计模型适用性的内涵及定义.以某型CMOS工艺DSP器件为例,通过对比实际应用下的可靠性指标与基于手册的可靠性预计指标差异,给出可靠性预计模型适用性分析结果.