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蔡军;
半导体器件;
机译:分立保护装置遭受重复静电放电(ESD)的失效机理
机译:电磁力和热膨胀作为静电放电测试下电热MEMS执行器的失效机理
机译:硅纳米线场效应晶体管在静电放电应力作用下的失效分析
机译:一种新的静电放电模型导致芯片覆膜封装过程中的良率损失及其失效机理
机译:在环尖离子推进器中使用静电探针表征放电等离子体结构并确定放电阴极腐蚀机理。
机译:静电放电应力作用下的全栅硅纳米线场效应晶体管的退化机理–一种建模方法
机译:有助于分析碳化硅中MESFET组件的静电放电和重离子辐射过程中的失效机理
机译:反应性粉末的静电放电(EsD)敏感性机理及其缓解
机译:相对于测量方法,静电放电失效ON测试方法以及静电放电失效测试设备的零静电放电
机译:静电放电分析装置,静电放电分析程序,半导体装置的设计方法以及半导体装置的制造方法
机译:失效空气收集过滤器,失效空气收集器,失效空气分析系统和失效空气分析方法
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