首页> 中文会议>第七届全国可靠性物理学术讨论会 >国外MCM可靠性研究的发展现状

国外MCM可靠性研究的发展现状

摘要

该文综述了国外在多芯片组件(MCM)可靠性研究领域的发展思路和在可靠性设计、失效分析及评价试验方面的一些发展动态。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号