CMOS集成电路抗闩锁度的测试与分析

摘要

该文分析ＣＭＯＳ集成电路中寄生可控硅结构的触发机理，介绍了ＣＭＯＳ电路抗闩锁度的一种具体测试标准及电分析方法，并对两种具体的ＣＭＯＳ电路的抗闩锁度进行了测试和分析。