Au/Bi合金低温外延硅薄膜

摘要

该文从热力学角度对LPE中同时存在的Si氧休与SiO〈,2〉腐蚀的动态平衡过程进行了分析,探讨低温液相外延过程中防止硅氧化的技术条件,尝试采用Au/60wt℅Bi合金作为外延溶剂,采用饱和和Sn源保护Si衬底的方法以解决LPE过程中硅的氧化问题,以实现低温下硅薄膜的外延生长,外延温度400~500℃。通过对外延层表面形貌和成分的分析研究表明此法成功地解决了硅的氧化问题。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号