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KGD技术发展动态

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裸芯片在国内有着广泛的用途和市场,尤其是在军用HIC和MCM应用领域,裸芯片质量和可靠保证一直是人们关注的热点.本文论述了已知良好芯片(KGD)保证的主要技术要求,国外KGD技术发展现状,以及国内发展KGD技术面临的机遇与挑战.

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来源
《第九届全国可靠性物理学术讨论会》|2001年|145-149|共5页
会议地点延安
作者
恩云飞; 罗宏伟; 谭超元;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类半导体集成电路（固体电路）;可靠性及例行试验;
关键词
裸芯片; 可靠性; 混合集成电路; 多芯片组件;
入库时间 2022-08-17 10:20:56

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