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同步时序电路故障可测性研究

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对不可测故障进行测试产生是影响时序电路测试产生效率的一个重要因素.在本文提出了一种基于简化可控性计算的识别时序电路中不可测故障的算法,运用该算法无须搜索便可识别出时序电路中相当一部分不可测故障.针对ISCAS89电路的实验结果也验证了其有效性.

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来源
《企业信息化高级论坛全国第12届CAD/CG学术会议》|2002年|307-310|共4页
会议地点贵阳
作者
王仲; 宫云战;
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作者单位

中国计算机学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试技术及设备;
关键词
时序电路; 可控性; 不可测故障;
入库时间 2022-08-17 10:17:40

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