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一种基于带隙比较器的上电复位和欠压检测电路

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随着超大规模集成电路技术的发展,系统要求上电复位电路拥有更多的功能和更佳的性能。本文通过分析常规上电复位电路存在的问题,提出了一种基于带隙比较器的上电复位和欠压检测电路。通过对电路结构的分析和仿真,证明这种电路在性能和可靠性方面均远远优于常规上电复位电路。这种电路已应用于一款8位通用MCU芯片中,在CSMC 0.5μm CMOS工艺上流片验证通过.

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来源
《四川省电子学会半导体与集成技术专委会2006年度学术年会》|2006年|97-100|共4页
会议地点成都
作者
王灿; 周小军; 刘文峰; 李平;
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作者单位

中国电子学会;

四川省电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类场效应型;
关键词
CMOS工艺; 上电复位; 欠压检测; 带隙比较器;
入库时间 2022-08-17 10:40:12

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