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水稻扫描电镜能谱分析研究

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本文针对生物扫描电镜能谱分析方法进行了探讨,对水稻进行扫描电镜表面形态结构观察和对其元素含量分析.结果表明生物样品能谱分析,镀膜的厚度在20hm较好.在水稻根、茎、叶和谷粒中的含硅量,以谷粒表面为最多.

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来源
《第八次华北五省市电子显微学研讨会及第十届全国实验室协作服务交流会》|2014年|68-69|共2页
会议地点贵州安顺
作者
杨秉耀; 陈新芳; 周静韵; 刘向东; 郭海滨;
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作者单位

北京理化分析测试技术学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 S511.01;
关键词
水稻; 硅含量; 扫描电镜; 能谱分析;
入库时间 2022-08-17 10:24:29

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