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快前沿电磁脉冲(FREMP)对单管损伤效应的实验研究

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我们研究快前沿电磁脉冲(FREMP)对武器系统电子元器件的损伤效应和系统耦合效应,由于实验空间和实验的对象的选择问题,这里重点介绍单管静态注入实验方法,并给出了不同脉冲宽度下单管3DGIIIF的损伤阈值,对其损伤机理进行了初步分析,试验结果认为FREMP对高频三极管3DGIIIF的损伤机理主要是PN结的结表面击穿和氧化层击穿.

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来源
《第九届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会》|2007年|409-411|共3页
会议地点重庆
作者
罗学金; 曹占峰;
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作者单位

中国核学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类可靠性及例行试验;
关键词
电磁脉冲; 损伤阈值; 击穿效应; 高频三极管;

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