等离子体法制备纳米铋粉末的研究

摘要

采用等离子法在不同条件下分别制备了纳米Bi粉末，利用X射线衍射(XRD)，透射电镜(TEM)测试手段对样品的物相、形貌、粒度等进行性能表征。此法制备出粒度在50～150nm的超细金属Bi粉末。获得了最佳工艺参数，并进一步从理论上做出分析，为生产应用提供理论和技术基础。