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刘文德; 陈赤; 杜淼; 郝雷; 樊其明; 徐英莹; 张静;
中国光学学会;
TiAlON系; 薄膜材料; 椭偏测量; 薄膜厚度;
机译:通过椭偏孔隙率法,紫外椭偏法和激光诱导的表面声波研究了SOG低k材料的刚性和亲水性
机译:含氧介质中SiO_x薄膜退火形成纳米复合材料的椭偏研究
机译:测量各向同性和各向异性薄膜有效椭偏参数的偏振扫描椭偏法
机译:X射线椭偏仪(XME):一种新颖的椭偏技术,可完全表征薄膜-基材系统
机译:Ag和ZnO薄膜及其界面在薄膜光伏中的光谱椭偏分析研究。
机译:SiOx和SiOx ErF薄膜的氧化退火形成纳米复合材料:椭偏和FTIR分析
机译:用于生物传感和(光电)电子应用的纳米颗粒结构和薄膜的椭偏模型=用于生物和(光电)电子应用的纳米颗粒结构和薄膜的椭偏模型
机译:被动薄膜,表面结构和应力腐蚀和缝隙腐蚀敏感性。第一部分定性椭偏 - 电化学方法研究有机涂层下的薄膜生长。第二部分。氢互作用
机译:智能薄膜涂层和智能偏振设备,智能椭偏仪和智能椭偏仪
机译:椭偏分析仪,样品椭偏分析方法和薄膜厚度变化量测量
机译:极薄膜的椭偏研究
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