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螺旋线慢波结构色散特性与耦合阻抗测量系统误差分析

摘要

本文系作者研制的"螺旋线慢波结构冷特性自动测量系统"的补充,给出了此类系统测量误差的详细理论分析,并对典型数据进行了计算.结果表明色散特性(相光速比)的测量误差可小于0.5%,基波耦合阻抗的测量误差则可达15%.

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