静电放电技术基础研究

摘要

随着科学技术的发展与进步，越来越多的通信和电子设备应用到生产、生活、工作和科研中来。由此，产生了一些迫切需要解决的问题：通信和电子设备中越来越多的使用半导体和集成电路，出于降低功耗的目的，电子元器件的开关门限电压不断降低，所有这些变化，导致了各种电子设备的静电放电问题越来越突出。这不仅关系到通信和电子设备的正常使用与维护，还会影响到人们的财产甚至人身安全。所以，越来越多的电子产品制造商和科研机构开始关注通信和电子产品的静电放电、静电防护等方面的研究。许多电子产品认证都要求产品通过相应级别的静电放电测试。目前国际上相关的技术标准有IEC 61000-4-2、AEC 标准、JEDEC EIA/JESD22-A114-D等。因此，本文主要是研究元器件级静电放电和系统级静电放电之间的关系，这主要通过对两种静电放电测试标准的研究和比较，分析两种静电放电各自的优势和劣势，从而提出相应的改进措施。