平晶平面度测量方法的研究

摘要

针对不同精度平晶的测量要求,介绍了3种平晶平面度的测量方法。阐述了比较测量的原理以及测量精度的局限性。对于高精度平晶的检测,介绍了2种绝对测量的方法。对这2种方法编制了模拟程序和数据处理程序,并进行了实验。不同方法的测试结果符合较好,面形评价数据在相同数量级上,验证了测试方法的可行性,实现了无参考面的高精度测量。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号