基于边界扫描技术的集成电路测试平台设计

摘要

支持IEEE1149.1标准的边界扫描芯片的广泛应用和可测性设计(DFT)的研究，使边界扫描测试技术得到了广阔的发展。我们以边界扫描测试技术为基础设计了集成电路(IC)测试平台，并对许多复杂的IC进行了测试。该平台不需要昂贵的仪表、设备，而是通过边界扫描芯片的特点产生并捕获测试信号，并且还具有很高的测试覆盖率。同时我们也根据在测试开发中遇到的问题，对可测性设计提出了一些建议。