首页> 中文会议>第八届中国国际半导体照明论坛 >新型碳化硅电力电子器件的测试与对比研究

新型碳化硅电力电子器件的测试与对比研究

摘要

对新型材料器件——碳化硅MOSFET、碳化硅JFET、碳化硅BJT进行了静态和动态的测试,并和相同电压电流等级的硅材料器件(Si IGBT、Si MOSFET、CooIMos)做了对比分析、同时也在碳化硅器件之间做了一些对比研究。着重介绍了碳化硅器件优良的静态特性、温度特性以及开关特性。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号