高低温循环加速老化实验对LED器件可靠性的研究

摘要

本文依据EIAJED-470 1/100和IEC 60749-25标准，设计了加速条件为-25℃／125℃的高低温循环加速老化实验。通过3组1W的LED器件和1组COB集成封装LED器件的加速老化，分析了光电热等特性随老化时间的变化情况。加速老化实验结果表明，不同结构材料封装的LED器件光衰速率不同，蓝光LED器件的主波长变化不明显，白光LED器件色温略有变化；器件的结温、热阻随老化时间呈升高趋势；各组LED器件的失效情况相差很大；COB器件的光通量维持率与失效情况都优于普通功率型LED.本实验表明了高低温循环加速老化的实验方法对评价LED的可靠性有重要的参考意义.