通过加速老化实验对LED器件可靠性的研究

摘要

与传统的照明光源(白炽灯、荧光灯、高强度放电灯)相比，LED由于具有节能、高效、寿命长、抗震、体积小、响应速度快等优点，大功率LED器件得到了越来越广泛的应用，市场潜力逐渐变大。作为一种新型的照明光源，大功率LED照明产品将成为继传统照明光源之后的新一代照明光源[1]。然而，在众多的LED照明产品中，产品质量良莠不齐，其中问题之一是LED器件的可靠性。LED光源与灯具的可靠性问题阻碍了其进入通用照明的步伐[2].LED产品的可靠性，是决定其能否进入通用照明的关键因素之一。研究人员们对LED可靠性做了大量的研究工作，常见的寿命试验方法有普通条件外推法、温度加速寿命实验法、电流加速寿命实验法，由于普通条件外推法周期非常长，一般多采用温度加速寿命实验法和电流加速寿命实验法。