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ETCHING AND THINNING FOR THE FABRICATION OF LITHOGRAPHICALLY PATTERNED DIAMOND NANOSTRUCTURES

机译:用于制造光刻图案化金刚石纳米结构的蚀刻和稀释

摘要

A back side of a diamond or other substrate is thinned using plasma etches and a mask situated away from the back side by a spacer having a thickness between 50 μm and 250 μm. Typically, a combined RIE/ICP etch is used to thin the substrate from 20-40 μm to less than 1 μm. For applications in which color centers are implanted or otherwise situated on a front side of the diamond substrate, after thinning, a soft graded etch is applied to reduce color center linewidth, particularly for nitrogen vacancy (NV) color centers.
机译:使用等离子体蚀刻的金刚石或其他基板的后侧通过厚度在50μm和250μm之间的间隔物缩短了位于背面的掩模。 通常,组合的RIE / ICP蚀刻用于将基板缩小到20-40μm至小于1μm。 对于在金刚石基板的前侧植入或以其他方式定位的应用,在稀释后,施加软分级蚀刻以减少色中心线宽,特别是对于氮空位(NV)颜色中心。

著录项

  • 公开/公告号US2021399708A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-12-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 UNIVERSITY OF OREGON;

    申请/专利号US202117466979

  • 发明设计人 IGNAS LEKAVICIUS;HAILIN WANG;

    申请日2021-09-03

  • 分类号H03H9/02;G03F7/004;G03F7/20;

  • 国家 US

  • 入库时间 2024-06-14 22:34:26

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