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CRYSTAL MATERIAL ANALYSIS DEVICE, CRYSTAL MATERIAL ANALYSIS METHOD AND CRYSTAL MATERIAL ANALYSIS PROGRAM

机译:晶体材料分析装置,晶体材料分析方法和晶体材料分析计划

摘要

To provide a crystal material analysis device useful for analysis of a crystal material.SOLUTION: A crystal material analysis device has: a graph creation unit that creates a loop graph having intra-lattice nodes representing atoms in one unit lattice of a crystal material, intra-lattice edges showing chemical bonds between atoms in the unit lattice, and a loop edge showing a virtual chemical bond between an atom X in the unit lattice and an atom Y in the unit lattice corresponding to an atom Y' in an adjacent unit lattice adjacent to the unit lattice, wherein the atom Y' has the chemical bond with the atom X in the unit lattice; and an analysis unit that analyzes a crystal material using the graph.SELECTED DRAWING: Figure 12
机译:为了提供一种用于分析晶体材料的晶体材料分析装置。晶体材料分析装置具有:图形创建单元,其产生具有表示晶格中的晶格内的晶格节点,内部的晶体材料的晶格内,intra - 在单位晶格中的原子之间的化学键,以及在相邻的单元格中的单元格子中的原子X中的原子x和原子y之间的自动x之间的虚拟化学键,在相邻的单元格子中相邻的原子晶格中的原子y之间的虚拟化学键。 到单位格子,其中原子Y'具有与单位格子中的原子X的化学键; 和分析使用图形的晶体材料的分析单元。选择图:图12

著录项

  • 公开/公告号JP2021124964A

    专利类型

  • 公开/公告日2021-08-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FUJITSU LTD;

    申请/专利号JP20200018085

  • 发明设计人 KURITA TOMOCHIKA;OBUCHI MARI;

    申请日2020-02-05

  • 分类号G16C20/30;G06F30/10;G16C20/80;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-24 22:20:09

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