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Amorphous-Selenium Based X-ray Detector for Decreasing Leakage Current

机译:基于非晶硒的X射线检测器,用于降低漏电流

摘要

The present invention does not dope the amorphous selenium with As or Cl, and facilitates the inflow of electron-hole pairs generated by X-rays in the amorphous selenium layer, but through bandgap engineering, the electric field from the metal electrode to the amorphous selenium layer It relates to an amorphous selenium-based X-ray detector that can block the leakage current of electrons injected by
机译:本发明不会用作或Cl掺杂无定形硒,并促进由非晶硒层中的X射线产生的电子 - 空穴对的流入,而是通过带隙工程,从金属电极到无定形硒的电场 层面涉及一种基于非晶硒的X射线检测器,其可以阻挡所注入的电子的漏电流

著录项

  • 公开/公告号KR102310516B1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-10-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 한국전기연구원;

    申请/专利号KR20140184422

  • 发明设计人 허두창;양기동;전성채;차보경;

    申请日2014-12-19

  • 分类号G01T1/24;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-24 21:38:46

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