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Sample holder for single crystal X-ray structure analyzer, sample holder unit and occlusion method

机译:单晶X射线结构分析仪的样品保持器,样品架单元和遮挡方法

摘要

Provided are a sample holder, a sample holder unit, and an occlusion method capable of quickly and accurately performing single crystal X-ray structure analysis by quickly and easily occlusion of a sample in a crystal sponge. A sample holder used in a single crystal X-ray structure analyzer, a base portion attached to the goniometer of the single crystal X-ray structure analyzer, and a plurality of fine particles formed on the base portion and formed inside. A sample holding portion that holds a pore-like complex crystal capable of occluding the sample in the pores, a sample introduction structure that is formed in the base portion and introduces the sample to be occluded in the pore-like complex crystal, and a sample introduction structure. To be equipped.
机译:提供一种样品支架,样品架单元和能够通过快速且容易地在晶体海绵中闭塞样品来快速准确地执行单晶X射线结构分析的闭塞方法。 用于单晶X射线结构分析仪的样品支架,连接到单晶X射线结构分析仪的测芯计的基部,以及在基部上形成的多个细颗粒并形成在内部。 保持能够在孔中形成样品的孔状复合晶体的样品保持部分,在基部形成的样品引入结构并将样品引入孔状复合晶体中的样品,以及样品 介绍结构。 配备。

著录项

  • 公开/公告号JPWO2020105726A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-10-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社リガク;

    申请/专利号JP20200557652

  • 发明设计人 佐藤 孝;

    申请日2019-11-21

  • 分类号G01N23/20025;G01N23/205;G01N23/207;G01N1/28;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-24 21:31:28

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