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SINGLE-CRYSTAL X-RAY STRUCTURAL ANALYSIS DEVICE SAMPLE HOLDER, SAMPLE HOLDER UNIT, AND OCCLUSION METHOD

机译:单晶X射线结构分析装置样品架,样品架单元和闭塞方法

摘要

A sample holder capable of quickly and precisely performing single-crystal X-ray structure analysis by quickly and easily soaking a sample in a crystalline sponge, and also a sample holder unit and a soaking method therefor are provided. There are provided a sample holder used in a single-crystal X-ray structure analysis apparatus is provided, the sample holder comprising a base part attached to a goniometer in the single-crystal X-ray structure analysis apparatus; a sample holding part formed in the base part to hold the porous complex crystal capable of soaking the sample in a plurality of fine pores formed therein; and a sample introduction structure formed in the base part and introducing the sample to be soaked in the porous complex.
机译:一种样品架,可以通过快速且容易地浸泡在晶体海绵中的样品,以及样品保持器单元和其中的样品保持单元和浸泡方法来快速且精确地进行单晶X射线结构分析。 提供了一种在单晶X射线结构分析装置中使用的样品支架,样品保持器包括附接到单晶X射线结构分析装置中的焦点计的基部; 在基部中形成的样品保持部分以保持能够在其中形成的多个细孔中浸泡样品的多孔复合物晶体; 并且在基部中形成的样品引入结构并将样品引入多孔络合物中浸泡。

著录项

  • 公开/公告号EP3885748A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-09-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RIGAKU CORPORATION;

    申请/专利号EP20190886634

  • 发明设计人 SATO TAKASHI;

    申请日2019-11-21

  • 分类号G01N23/20025;G01N23/205;G01N23/207;G01N1/28;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2024-06-14 22:08:30

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