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Semiconductor device including dummy patterns and peripheral interconnection patterns at the same level

机译:半导体器件包括具有相同级别的虚设图案和外围互连模式

摘要

A semiconductor device includes a cell semiconductor pattern disposed on a semiconductor substrate. A semiconductor dummy pattern is disposed on the semiconductor substrate. The semiconductor dummy pattern is co-planar with the cell semiconductor pattern. A first circuit is disposed between the semiconductor substrate and the cell semiconductor pattern. A first interconnection structure is disposed between the semiconductor substrate and the cell semiconductor pattern. A first dummy structure is disposed between the semiconductor substrate and the cell semiconductor pattern. Part of the first dummy structure is co-planar with part of the first interconnection structure. A second dummy structure not overlapping the cell semiconductor pattern is disposed on the semiconductor substrate. Part of the second dummy structure is co-planar with part of the first interconnection structure. A conductive shielding pattern is disposed between the cell semiconductor pattern and the semiconductor substrate and above the first circuit and the first interconnection structure.
机译:半导体器件包括设置在半导体衬底上的电池半导体图案。半导体伪图案设置在半导体衬底上。半导体虚设图案是与电池半导体图案的共面。第一电路设置在半导体衬底和电池半导体图案之间。第一互连结构设置在半导体衬底和电池半导体图案之间。第一虚设结构设置在半导体衬底和电池半导体图案之间。第一虚拟结构的一部分是具有第一互连结构的一部分的共面。不重叠细胞半导体图案的第二伪结构设置在半导体衬底上。第二个虚设结构的一部分是具有第一互连结构的一部分的共面。导电屏蔽图案设置在电池半导体图案和半导体衬底之间以及第一电路上方和第一互连结构之间。

著录项

  • 公开/公告号US11127679B2

    专利类型

  • 公开/公告日2021-09-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号US202017060142

  • 发明设计人 JANG-GN YUN;JAESUN YUN;JOON-SUNG LIM;

    申请日2020-10-01

  • 分类号H01L23/522;H01L23/528;H01L23/31;H01L27/06;H01L27/11573;H01L27/11582;

  • 国家 US

  • 入库时间 2024-06-14 22:05:20

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