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Selective deposition of silicon using deposition-treat-etch process

机译:使用沉积治疗蚀刻工艺选择性沉积硅

摘要

Methods for selective silicon film deposition on a substrate comprising a first surface and a second surface are described. More specifically, the process of depositing a film, treating the film to change some film property and selectively etching the film from various surfaces of the substrate are described. The deposition, treatment and etching can be repeated to selectively deposit a film on one of the two substrate surfaces.
机译:描述了在包括第一表面和第二表面的基板上的选择性硅膜沉积的方法。更具体地,描述沉积薄膜的过程,处理膜以改变一些膜性能并从基板的各种表面选择性地蚀刻膜。可以重复沉积,处理和蚀刻以选择性地沉积在两个基板表面之一上的膜。

著录项

  • 公开/公告号US11081348B2

    专利类型

  • 公开/公告日2021-08-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 APPLIED MATERIALS INC.;

    申请/专利号US201816001251

  • 申请日2018-06-06

  • 分类号H01L21/02;A61K9;A61K31/438;A61K31/4409;A61K31/47;A61K31/497;A61K47/12;A61K47/26;A61K47/36;H01L21/3065;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 20:18:02

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