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Method and Device for Boosting Performance of FinFETS via Strained Spacer

机译:通过应变间隔物提高FinFET性能的方法和装置

摘要

A semiconductor device and a method of forming the same are provided. A semiconductor device according to an embodiment includes a P-type field effect transistor (PFET) and an N-type field effect transistor (NFET). The PFET includes a first gate structure formed over a substrate, a first spacer disposed on a sidewall of the first gate structure, and an unstrained spacer disposed on a sidewall of the first spacer. The NET includes a second gate structure formed over the substrate, the first spacer disposed on a sidewall of the second gate structure, and a strained spacer disposed on a sidewall of the first spacer.
机译:提供了一种半导体器件和形成相同的方法。根据实施例的半导体器件包括p型场效应晶体管(PFET)和n型场效应晶体管(NFET)。 PFET包括在基板上形成的第一栅极结构,第一间隔件设置在第一栅极结构的侧壁上,以及设置在第一间隔件的侧壁上的未开发的间隔物。该网包括形成在基板上的第二栅极结构,第一间隔件设置在第二栅极结构的侧壁上,以及设置在第一间隔件的侧壁上的应变间隔物。

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