首页> 外国专利> GaN-BASED SEMICONDUCTOR NEUTRON DETECTOR AND SYSTEM FOR NEUTRON DETECTING USING THE SAME

GaN-BASED SEMICONDUCTOR NEUTRON DETECTOR AND SYSTEM FOR NEUTRON DETECTING USING THE SAME

机译:GaN的半导体中子探测器和用于使用相同的中子检测系统

摘要

The present invention provides an n-type-intrinsic-p-type gallium nitride-based semiconductor layer sequentially formed on a first electrode layer; and a second electrode layer formed on the p-type gallium nitride-based semiconductor layer, wherein the p-type gallium nitride-based semiconductor layer is doped with chlorine, and to a neutron detection system using the same.
机译:本发明提供一种在第一电极层上依次形成的n型内在-p型氮化物基半导体层;并且在基于p型氮化镓基半导体层上形成的第二电极层,其中基于p型氮化镓基半导体层掺杂氯,并使用该基于氯,并与中子检测系统掺杂。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号