首页> 外国专利> FALLING IMPACT TESTER AND METHOD OF FALLING IMPACT TEST

FALLING IMPACT TESTER AND METHOD OF FALLING IMPACT TEST

机译:下降冲击试验机和下降冲击试验方法

摘要

The drop impact test apparatus includes a falling part, a drop angle measuring part, an impact measuring part, and a measuring angle changing part. The falling part freely falls the test object. The fall angle measurement unit measures the fall angle of the test object. The impact measuring unit is mounted on the free-falling test object, and measures the impact of the dropping of the test object. The measurement angle change unit changes the measurement angle of the impact measurement unit.
机译:下降冲击试验装置包括下降部,下降角度测量部分,冲击测量部分和测量角度变化部件。下降部分自由地落下测试对象。秋季角度测量单元测量测试对象的落后角度。冲击测量单元安装在自由落体测试对象上,并测量测试对象的掉落的影响。测量角度变化单元改变冲击测量单元的测量角度。

著录项

  • 公开/公告号KR102244628B1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-04-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 삼성디스플레이 주식회사;

    申请/专利号KR20140106115

  • 发明设计人 이종남;홍익준;김민수;

    申请日2014-08-14

  • 分类号G01M7/08;G01N3/30;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-24 18:28:47

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号