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ZERO-BIAS PHOTOGATE PHOTODETECTOR

机译:零偏置光电探测器

摘要

A photogate photodetector (10) comprising: a first electrode consisting of amorphous germanium (12) covered with transition metal species having a thickness in the range of 0.1-5 nm (11); a second electrode (14) which is an n-type silicon layer; and a dielectric layer (13) arranged between the first and second electrode; with a depletion layer (15) formed in the n-type silicon layer (14) at the interface to the dielectric layer (13).
机译:光电探测器(10)包括:第一电极,其由覆盖有厚度在0.1-5nm(11)的厚度的过渡金属物质组成的第一电极;作为n型硅层的第二电极(14);和布置在第一和第二电极之间的介电层(13);利用在介电层(13)的界面处的N型硅层(14)中形成的耗尽层(15)。

著录项

  • 公开/公告号WO2021054880A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-03-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HABIBPOUR OMID;

    申请/专利号WO2020SE50716

  • 发明设计人 HABIBPOUR OMID;

    申请日2020-07-07

  • 分类号H01L31/028;H01L31/101;

  • 国家 SE

  • 入库时间 2024-06-14 21:23:25

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