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DYNAMIC LIGHT-SCATTERING MEASURING APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING LIGHT-SCATTERING INTENSITY OF PARTICLES IN A MEDIUM

机译:动态光散射测量装置和用于测量介质中粒子的光散射强度的方法

摘要

There is provided a dynamic light-scattering measuring apparatus including: a Mach-Zehnder interferometer; and a low-coherence light source. Further, there is provided a method for measuring light-scattering intensity of particles in a medium, including the steps of: providing a Mach-Zehnder interferometer; and measuring light-scattering intensity from light emitted from a low-coherence light source, in accordance with a dynamic light-scattering intensity measuring process.
机译:提供了一种动态光散射测量装置,包括:Mach-Zehnder干涉仪;和一个低相干光源。此外,提供了一种用于测量介质中颗粒的光散射强度的方法,包括步骤:提供Mach-Zehnder干涉仪;根据动态光散射强度测量过程测量从低相干光源发射的光的光散射强度。

著录项

  • 公开/公告号EP2270449B1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-03-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FUJIFILM CORPORATION;

    申请/专利号EP20100168257

  • 申请日2010-07-02

  • 分类号G01J3/44;G01N15/02;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-24 17:45:59

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