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NANOSCALE DYNAMIC MECHANICAL ANALYSIS VIA ATOMIC FORCE MICROSCOPY (AFM-NDMA)

机译:纳米级动态机械分析通过原子力显微镜(AFM-NDMA)

摘要

An atomic-force-microscope-based apparatus and method including hardware and software, configured to collect, in a dynamic fashion, and analyze data representing mechanical properties of soft materials on a nanoscale, to map viscoelastic properties of a soft-material sample. The use of the apparatus as an addition to the existing atomic-force microscope device.
机译:基于原子力显微镜的装置和方法包括硬件和软件,被配置为以动态方式收集,并分析表示纳米级上软材料的机械性能的数据,以映射软材料样品的粘弹性性质。使用该装置作为现有原子力显微镜装置的补充。

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