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3D memory device and method of forming 3D memory device

机译:3D存储器设备和形成3D存储器件的方法

摘要

A method of forming a 3D memory device includes forming an alternating dielectric stack in a contact area on a substrate, forming a plurality of contact holes having various depths vertically extending in the alternating dielectric stack, and a sacrificial-filling layer filling the contact hole. Forming a plurality of dummy channel holes penetrating the alternating dielectric stack in the contact region, filling the dummy channel holes with a dielectric material to form a support, and sacrificing the alternating dielectric stack and the sacrificial-filling layer Replacing the layer with a conductive layer to form a plurality of gate lines and contacts.
机译:一种形成3D存储器件的方法包括在基板上的接触区域中形成一个交替的电介质叠,形成多个接触孔,该多个接触孔具有垂直延伸在交流介质堆叠中的各种深度,以及填充接触孔的牺牲填充层。形成多个虚设沟道孔穿透在接触区域中的交替电介质堆叠,用介电材料填充虚设通道孔以形成支撑,并牺牲交替的介电堆叠和牺牲填充层用导电层替换层形成多个栅极线和触点。

著录项

  • 公开/公告号KR20210024641A

    专利类型

  • 公开/公告日2021-03-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利号KR1020217003091

  • 发明设计人 샤오 리홍;

    申请日2018-09-26

  • 分类号H01L27/11582;G11C16/04;H01L27/11575;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-24 17:33:38

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