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Chemical vapor deposition equipment

机译:化学气相沉积设备

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a chemical vapor deposition apparatus in which a temperature distribution of a wafer at the time of film formation becomes uniform. SOLUTION: A chemical vapor deposition apparatus 30 for growing a SiC single crystal epitaxial film on a wafer W by a chemical vapor deposition method, and a susceptor 1 having a protrusion on the upper surface on which the wafer W is placed. The cover member 21 is provided with an opening for accommodating the wafer W placed on the protrusion, and the inner wall surface of the opening is provided with the cover member 21 installed on the susceptor 1. The chemical vapor deposition apparatus 30 is separated from the protrusion. [Selection diagram] Fig. 1
机译:要解决的问题:提供一种化学气相沉积设备,其中膜形成时晶片的温度分布变得均匀。溶液:通过化学气相沉积方法在晶片W上生长SiC单晶外延膜的化学气相沉积装置30,以及在放置晶片W的上表面上具有突起的基座1。盖构件21设置有用于容纳放置在突起上的晶片W的开口,并且开口的内壁表面设置有安装在基座1上的盖构件21。化学气相沉积设备30分离突出。 [选择图]图1

著录项

  • 公开/公告号JP2021034656A

    专利类型

  • 公开/公告日2021-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 昭和電工株式会社;

    申请/专利号JP20190155927

  • 发明设计人 堅田 真守;石橋 直人;

    申请日2019-08-28

  • 分类号H01L21/205;C23C16/458;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-24 17:24:45

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