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on the study of the diffraction of electron beams for determining high gauge based applications

机译:电子束衍射的研究,用于确定基于高规格的应用

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE000000638707A

    专利类型

  • 公开/公告日1936-11-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS & HALSKE AKT GES;

    申请/专利号DES0103996D

  • 发明设计人 TRENDELENBURG DR FERDINAND;

    申请日1932-04-02

  • 分类号

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-24 05:52:03

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