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A method for measuring low layer thickness of the order of 0,01 mm to 0,001 mm

机译：一种测量0.01毫米至0.001毫米的低层厚度的方法

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机译：

著录项

  • 公开/公告号DE836253C

    专利类型

  • 公开/公告日1952-04-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 DR.-ING. ADOLF SCHOENTAG;

    申请/专利号DE1950SC01525

  • 发明设计人 SCHOENTAG DR.-ING. ADOLF;

    申请日1950-03-19

  • 分类号G01B11/06;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-24 01:10:20

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