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机译:设备,用于检测链状微相位系统的跨度击沉对称性并显示与对称性的偏差
公开/公告号DE000000878409B
专利类型
公开/公告日1953-06-01
原文格式PDF
申请/专利权人 HARTMANN & BRAUN AG;
申请/专利号DEH0001606D
发明设计人 WESTERMANN WALTER;
申请日1941-02-07
分类号
国家 DE
入库时间 2022-08-24 00:41:11
机译: 用于检测串联三相系统的电压三角形对称性并显示对称性偏差的设备
机译: 在实时使用光学设备的同时实现圆对称性并减小光学缺陷和偏差的影响
机译: 在光学设备的实时使用过程中同时实现圆对称性和减少光学缺陷和偏差的效果