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机译：用于低角度X射线衍射的点聚焦X射线单色仪
公开/公告号US2688094A
专利类型
公开/公告日1954-08-31
原文格式PDF
申请/专利权人 CALIFORNIA INSTITUTE RESEARCH FOUNDATION;
申请/专利号US19520286947
发明设计人 DUMOND JESSE W. M.;
申请日1952-05-09
分类号G21K1/06;
国家 US
入库时间 2022-08-23 23:41:28
机译： 使用硅单晶的偏轴进行X射线衍射的非反射样品架，样品架制造方法以及包括样品架和X射线衍射分析方法的X射线衍射分析系统由于照明角度而不会产生衍射，从而降低噪音
机译： X射线衍射测定装置中的X射线入射角检测方法及X射线衍射测定装置
机译： X射线衍射测量装置以及用于检测x射线衍射测量装置中的x射线入射角的方法
