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Diffraction goniometer, in particular x-ray goniometer

机译:衍射测角仪,尤其是X射线测角仪

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE1245164B

    专利类型

  • 公开/公告日1967-07-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHIRANA PRAHA NP;

    申请/专利号DE1965C035864

  • 发明设计人 TALAS JAROSLAV;

    申请日1965-05-17

  • 分类号G01N23/207;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-23 14:08:31

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