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process for zuechten of thin, weak doped homogeneous epitaktischen siliziumschichten at low temperatures, particularly for the manufacture of uebergaengen with extremely low resistance in stream

机译:于低温下制备薄,弱掺杂的均质表面活性硅的方法,特别是用于制造流阻力极低的uebergaengen

摘要

1,148,409. Epitaxial silicon deposition. INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORP. 20 Oct., 1966 [21 Oct., 1965], No. 46895/66. Heading C1A. [Also in Divisions C7 and H1] An epitaxial Si layer is grown on a Si substrate by depositing Si and Al thereon (e.g. by evaporation of an Al or Si alloy on successive layers of Al and Si) and heating the coated base at a temperature below the Al-Si eutectic temperature to cause a crystalline Si layer to grow on the substrate surface (e.g. at 565‹ C.).
机译:1,148,409。外延硅沉积。国际商业机器公司,1966年10月20日[1965年10月21日],第46895/66号。标题C1A。 [也在C7和H1区中]通过在其上沉积Si和Al(例如通过在Al和Si的连续层上蒸发Al或Si合金)并在一定温度下加热涂覆的基底,在Si衬底上生长外延Si层。在低于Al-Si共晶温度的温度下导致晶体Si层在衬底表面上生长(例如在565℃)。

著录项

  • 公开/公告号DE000001544214A

    专利类型

  • 公开/公告日1970-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 IBM;

    申请/专利号DE1544214A

  • 发明设计人 LOURENS KUIPER LUBERTUS;

    申请日1966-10-13

  • 分类号

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-23 11:11:07

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