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Method for reducing the stacking fault density as possible in epitaxial layers of semiconductor components.

机译：用于在半导体部件的外延层中尽可能减小堆垛层错密度的方法。

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公开/公告号DE1944131A1

专利类型
公开/公告日1970-03-19

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申请/专利权人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORP.;
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申请/专利号DE19691944131
发明设计人 SPIROANDREA;YOUNG DOOVEN;
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申请日1969-08-30
分类号H01L7/36;
国家 DE
入库时间 2022-08-23 10:49:58

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