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TEST CIRCUIT FOR MEASURING FIGURE OF MERIT OR ATTENUATION RATIO OF VIBRATING SYSTEMS

机译:测量振动系统的品质因数或衰减比的测试电路

摘要

A test circuit for measuring the attenuation ratio of vibrating systems comprises a vibrating system connected to an amplifier in turn connected to a detector responding to average value, and a peak detector connected in parallel to the average detector. The outputs of the two detectors are connected to an adder whose output is applied, through a voltage-to-frequency converter, to a pulse circuit whose outputs are connected to an exciting circuit, to the amplifier and to an integrator.
机译:一种用于测量振动系统的衰减率的测试电路,包括:振动系统,其连接至放大器,所述放大器又连接至响应于平均值的检测器;以及峰值检测器,其并联连接至所述平均检测器。这两个检测器的输出连接到加法器,该加法器的输出通过电压-频率转换器施加到脉冲电路,该脉冲电路的输出连接到激励电路,放大器和积分器。

著录项

  • 公开/公告号FR2072635A5

    专利类型

  • 公开/公告日1971-09-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 POLSKA AKADEMIA UNIPAN;

    申请/专利号FR19700042957

  • 发明设计人

    申请日1970-11-30

  • 分类号G01R27/00;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-23 09:18:22

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