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APPARATUS FOR NONCONTACT MEASUREMENT OF SEMICONDUCTOR RESISTIVITY INCLUDING A TOROIDAL INDUCTIVE COIL WITH A GAP

机译：非接触式测量半导体电阻率的装置，包括带间隙的环形感应线圈

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公开/公告号US3544893A

专利类型
公开/公告日1970-12-01

原文格式PDF
申请/专利权人 ANATOLY IVANOVICH SAVIN;ALEXANDR IVANOVICH GOLUBEV;VALENTINA MIKHAILOVNA LOMAKINA;
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申请/专利号USD3544893
发明设计人 ALEXANDR IVANOVICH GOLUBEV;ANATOLY IVANOVICH SAVIN;VALENTINA MIKHAILOVNA LOMAKINA;
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申请日1968-08-05
分类号G01R27/02;G01R33/00;
国家 US
入库时间 2022-08-23 09:12:13

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