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机译:器件分类半导体器件的反比大小和稳定性
公开/公告号SU446851A1
专利类型
公开/公告日1974-10-15
原文格式PDF
申请/专利权人 ПРЕДПРИЯТИЕ П/Я М-5222;
申请/专利号SU19731949715
发明设计人 ТАРВИД ПЕТР ПЕТРОВИЧ;ШАРОНОВ АНАТОЛИЙ ПЕТРОВИЧ;
申请日1973-08-01
分类号G01R31/26;
国家 SU
入库时间 2022-08-23 05:49:20
机译: 分类装置制造方法,图像分类方法,图像分类装置,半导体检查装置和分类标准模块
机译: 半导体缺陷分类方法,半导体缺陷器件分类,半导体缺陷分类程序
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