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Semiconductor chip diffusion doping with boron - from layer contg. gp. 1 or 11 borate or hydroxide , accelerating dissoln. of glass formed

机译:半导体芯片扩散掺杂硼-来自层续。 gp。 1或11硼酸盐或氢氧化物,加速溶解。形成的玻璃

摘要

In the doping of semiconductor chips with B by applying a substance (I) contg. a B cpd. to the surface of the chip and heating the chip, (I) contains an additive of gp. I or II borates or hydroxides, pref. Na2B4O7 or KOH, pref. in amts. of ca 1 wt. % The use of the additive allows drastic redn. of the time required for dissolve ng the glass formed on the surface of the chips during the diffusion process, which otherwise can take up to 25 days for 50 mm dia. chips when a whole stack is placed in the diffusion vessel.
机译:在通过施加物质(I)进行B掺杂半导体芯片的过程中。 B cpd。到芯片表面并加热芯片,(I)含有gp添加剂。 I或II硼酸盐或氢氧化物,优选。 Na2B4O7或KOH,优选。在地上。约1 wt。 %使用添加剂会急剧变红。扩散过程中溶解形成在芯片表面上的玻璃所需的时间的一半,否则直径最多50毫米可能需要25天。当将整个烟囱放置在扩散容器中时会产生碎片。

著录项

  • 公开/公告号DE2508362A1

    专利类型

  • 公开/公告日1976-09-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS AG;

    申请/专利号DE19752508362

  • 发明设计人 WILLYDIPL.-CHEM.DR. JOHANSENJON;

    申请日1975-02-26

  • 分类号B01J17/34;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-23 02:02:19

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