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METAL-OXIDE-METAL, THIN-FILM CAPACITORS AND METHOD OF MAKING SAME

机译:金属氧化物,薄膜电容器及其制造方法

摘要

In the manufacture of a metal-oxide-metal (MOM) thin-film capacitor, the layer of dielectric material, such as silicon dioxide, is deposited, by thermal decomposition of a silicon compound, over a conductive ground plate; and the Q factor (or quality factor) of the capacitor is enhanced and the dissipation factor of the silicon dioxide is reduced by low-temperature densification of the silicon dioxide.
机译:在制造金属氧化物金属(MOM)薄膜电容器时,通过硅化合物的热分解,在导电接地板上沉积一层介电材料(例如二氧化硅)。通过二氧化硅的低温致密化,提高了电容器的Q因数(或品质因数),并降低了二氧化硅的耗散因数。

著录项

  • 公开/公告号FR2124292B1

    专利类型

  • 公开/公告日1976-07-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RCA CORP;

    申请/专利号FR19720002882

  • 发明设计人

    申请日1972-01-28

  • 分类号H01G3/00;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-23 01:55:06

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