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VOLTAGE LEVEL DETECTING CIRCUIT OF COMPLEMENTARY TYPE FIELD EFFECT ELE MENT INTEGRATED CIRCUITS

机译:互补型场效应元件集成电路的电压电平检测电路

摘要

PURPOSE:To form an IC of single channel type in a C-MOSIC and change the conductance ratio of the C-MOSIC with said single channel element, thereby operating the C-MOSIC near the threshold of each channel of the C-MOSIC.
机译:目的:在C-MOSIC中形成单通道类型的IC,并用所述单通道元件改变C-MOSIC的电导率,从而在C-MOSIC的每个通道的阈值附近操作C-MOSIC。

著录项

  • 公开/公告号JPS5249867A

    专利类型

  • 公开/公告日1977-04-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP;

    申请/专利号JP19750124913

  • 发明设计人 KIYOUMASU MIKIO;

    申请日1975-10-17

  • 分类号G01R19/165;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-23 01:10:23

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