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REFLECTION TYPE ELECTRONNDIFFRACTION APPARATUS

机译:反射型电子衍射仪

摘要

PURPOSE:To prevent the indistinctness of the diffraction ray on the observation system for the diffraction picture in the reflection type electron-diffraction method using the thin flux of the electron ray, by arranging the focusing lens between the specimen and the diffraction picture observation system.
机译:目的:通过在样品和衍射图像观察系统之间设置聚焦透镜,以防止在反射型电子衍射方法中使用细射线束的电子束在衍射图像观察系统中的射线不清晰。

著录项

  • 公开/公告号JPS5359485A

    专利类型

  • 公开/公告日1978-05-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HITACHI LTD;

    申请/专利号JP19760134055

  • 发明设计人 HAYAKAWA KAZUNOBU;

    申请日1976-11-10

  • 分类号G01N23/207;G01N23/205;H01J37/295;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 23:09:25

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