首页> 外国专利> Semiconductor wafer thermal gradient zone melting processing - using a wafer with a bevelled edge to minimise thermal gradient edge distortions

Semiconductor wafer thermal gradient zone melting processing - using a wafer with a bevelled edge to minimise thermal gradient edge distortions

机译:半导体晶圆热梯度区熔化处理-使用具有斜角边缘的晶圆以最小化热梯度边缘变形

摘要

In processing a semiconductor wafer by thermal gradient zone melting (TGZM) to form doped regions of recrystallised material in the wafer, a wafer is used whose outer edge is bevelled at predetermined included angle (alpha) with the bottom surface of the wafer. Pref. alpha = 41 degrees plus-or-minus 3 degrees. The bevelled edge minimises thermal gradient edge distortions without the need for additional processing steps or heat shields or guard rings, etc.
机译:在通过热梯度区熔化(TGZM)处理半导体晶片以在晶片中形成重结晶材料的掺杂区时,使用晶片,其外边缘与晶片的底表面成预定的夹角(α)倾斜。首选alpha = 41度正负3度。斜切边缘使热梯度边缘变形最小化,而无需其他处理步骤或隔热罩或保护环等。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号